横浜高次脳機能診断法研修会

研修内容詳細

主催
中野光子
後援・協賛
なし
開催日
20250426~27 20250504-05
場所
横浜高次脳機能障害診断研究所
内容
2日間で高次脳機能障害診断法の実際を学びます。
プログラム
<講義内容>
初日:高次脳機能障害について    2日目:検査の選び方・所見の書き方
<演習可能なテストの種類>
WAIS-4,WISC-4,鈴木ビネーテスト,田中 Binet 5,Raven Standard Progressive Matrices,Raven Coloured Progressive Matrices,標準失語症検査,WAB,WMS-R,リバミード行動記憶検査,標準視知覚検査,標準注意検査法,標準意欲評価法,RAVLT(聴覚記憶検査),RCFT(複雑図形記憶検査),
コグニスタット,Wisconsin Card Sorting Test,BADS(遂行機能障害症候群の行動評価),Frontal
Assessment Battery(FAB/前頭葉機能評価) ほか
講師
中野光子
参加対象者
希望者全て
定員
10名
参加費
25,000円
申し込み方法
中野光子あてメールで申し込んでください。
 m-naka27@jcom.home.ne.jp
申込期限
2025,1,29~4.20
問い合わせ先
中野光子  m-naka27@jcom.home.ne.jp
URL
http://higher-brain-functions.org
〒732-0052
広島市東区光町1丁目11-5  チサンマンション広島1111号
© 2025 広島県臨床心理士会. All rights reserved.