横浜高次脳機能診断法研修会
- 主催
- 中野光子
- 後援・協賛
- なし
- 開催日
- 20250426~27 20250504-05
- 場所
- 横浜高次脳機能障害診断研究所
- 内容
- 2日間で高次脳機能障害診断法の実際を学びます。
- プログラム
- <講義内容>
初日:高次脳機能障害について 2日目:検査の選び方・所見の書き方
<演習可能なテストの種類>
WAIS-4,WISC-4,鈴木ビネーテスト,田中 Binet 5,Raven Standard Progressive Matrices,Raven Coloured Progressive Matrices,標準失語症検査,WAB,WMS-R,リバミード行動記憶検査,標準視知覚検査,標準注意検査法,標準意欲評価法,RAVLT(聴覚記憶検査),RCFT(複雑図形記憶検査),
コグニスタット,Wisconsin Card Sorting Test,BADS(遂行機能障害症候群の行動評価),Frontal
Assessment Battery(FAB/前頭葉機能評価) ほか
- 講師
- 中野光子
- 参加対象者
- 希望者全て
- 定員
- 10名
- 参加費
- 25,000円
- 申し込み方法
- 中野光子あてメールで申し込んでください。
m-naka27@jcom.home.ne.jp
- 申込期限
- 2025,1,29~4.20
- 問い合わせ先
- 中野光子 m-naka27@jcom.home.ne.jp
- URL
- http://higher-brain-functions.org